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近視防控鏡片光學(xué)分析儀(微透鏡離焦測量)

簡要描述:SUPER MAPPER PLUS (SMC+)近視防控鏡片光學(xué)分析儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術(shù),利用波前透射方式獲得整個測量區(qū)域內(nèi)多達2500萬個點的屈光度,從而獲得鏡片的各種屈光細節(jié)。
SMC具有測量動態(tài)范圍廣,精度高等特點,幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chǎn)品,如單焦點,散光,多焦點和各種環(huán)狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。

  • 產(chǎn)品型號:SupperMapper Plus(SMC+)
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2023-07-14
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